军工产品开展通用质量特性工作
在《军工产品开展通用质量特性工作的解读》（五）至（七）、《军工产品开展通用质量特性工作的解读之安全性设计》、《军工产品开展通用质量特性工作的解读之环境适应性设计》（一）和（二）以及《军工产品开展通用质量特性工作的解读之维修性设计》（一）至（三）中对可靠性设计、安全性设计、环境适应性设计以及维修性设计中所涉及到的通用设计技术进行了阐述，接下来主要对测试性设计进行分析，主要包括BIT设计要求、测试点要求、可控性要求、传感器要求、观测性要求等方面的内容，整体思路就是好测、快侧、准测。
11 测试性设计
测试性顾名思义就是指装备能及时准确地确定状态并隔离其内部故障的能力，常用的参数指标有故障检测率、故障隔离率等。其中很重要的就是装备中要包含有BIT电路，进行BIT设计，BIT设计的目的就是检测和隔离被测单元的故障，并提供装备的工作状态信息。在具体分项阐述前，先对系统划分的要求进行说明。
1) 将系统按功能进行划分，每个可更换单元至少应包括一个逻辑上完整的功能；
2) 结构设计反馈环越少，测试性越好。反馈环应尽量避免与可更换单元交叉；如果反馈环与可更换单元交叉，就必须在交叉的地方，提供开环测试的方法；
3) 系统应设计成更换单元LRU后不需要重新调整或校准；
4) 在任何情况下都应保持最少的逻辑系列数目，在可能的情况下，可以只使用一种逻辑系列；而且所有的数字逻辑、高压电路和射频(RF)逻辑应分别划分在单独的LRU上；
5) 设备中各组件插针的最大编号必须与所采用的ATE的接口能力相一致；
6) 系统应尽可能把故障率高的元器件或组件集中在一个LRU上，以便方便进行外场维修；而且尽可能使每个LRU有独立的电源，以便于进行故障隔离；
7) 考虑到信号扇出的关系，如果可能，应把同一模糊组的电路装在同一组件中。
有了整体对系统的划分，按照不同的系统单元，接下来针对测试性设计要求进行说明。
1) BIT电路的可靠性必须高于被测单元的可靠性，故障率不能大于被测单元故障率的10%，所以需要设计保护电路，确保BIT电路的故障不影响产品功能，而且设计最好满足可以区分产品的功能故障和BIT电路故障；检测到的故障信息应存入不易丢失信息的存储器中，存储器容量大小要留存出能存放BIT软件的字节数；
2) BIT设计应从产品设计一开始就加以考虑，并贯穿于系统研制的各阶段，系统、分系统、设备和LRU都可以设置必要的BIT电路；BIT设计的重量、硬件数量、体积和功耗不应超过设计要求的限制；
3) BIT的设计应尽量保证产品完成原位测试功能，尽可能利用微处理器进行测试和监控；
4) BIT的容差不应小于离位维修中所用测试设备的容差，所提供的输入激励对产品功能的影响要小；
5) 从电路类型方面，为满足标准化的要求，电路类型尽量少，应尽可能采用该产品已有的电路类型，并尽量利用产品中的电路；电路的虚警也应尽可能少；
6) 总体来说，BIT设计越简单越好，费用尽量低，不需要调整与校准，产品数据与测试数据之间互不干扰，分开显示和存储。
1) BIT设计必须与中继级及基地（后方）级维修用的测试设备相协调，以便验证由于BIT电路故障造成的虚警；可考虑设置BIT自动测试手段、参考电路和测试点，以便检查和校准BIT；
2) BIT设计可以采用分布式测试，直接指出故障的可更换单元LRU；
3) BIT检测的结果不应是一次检测的结果，应是在一段时间间隔内信号有效值综合得到的结果，比如对敏感参数进行人工起动重复测试时，应进行几个循环，以便有助于确定间歇性故障；而且应该考虑环境对BIT传感器的影响，合理规定BIT的测试容差，以便确定告警容差；
4) BIT数据最好实时集中显示，为操作人员和维修人员提供判据；
5) 对计算机控制的产品进行测试时应监控电源的瞬变状态，以避免造成虚警，所以BIT设计时应注意区分产品故障的特性和产品在允许范围内的特性，如电源在允许的容差范围内的波动就是允许的，不能当成故障处理；
6) 对BIT结果最好进行滤波和延时，以便使产品在识别故障状态前处于稳定状态；
7) BIT设计最好具有灵活性，以保证系统总体变化时，BIT的软件及测试极限也可相应做出改变。结语
篇幅所限，接下来在《军工产品开展通用质量特性工作的解读之测试性设计》（二）中对测试点要求、测试容差要求等方面进行阐述。
本文作者：冯保红
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